عنوان اختراع: كیت تست كامت با عملكرد بالا برای انجام آزمایش ژل الكتروفورز تك سلولی جهت بررسی آسیب ژنتیكی

خلاصه اختراع

High Performance Comet Assay kit: a fast and high throughput Comet assay/ Single cell gel electrophoresis for DNA damage evaluation آزمایش الكتروفورز ژل تك سلولی (SCGE) یا تست كامت (Comet Assay) یكی از روشهای بسیار كاربردی برای تشخیص آسیب و ترمیم DNA است. برای بررسی آسیب ژنتیكی به روش Single cell gel electrophoresis یا تست كامت روش مرسوم ایجاد لایه نازكی از سلولهای منفرد در ژل آگارز، ایجاد آسیب ژنتیكی با تركیبات مشخص، لیز كردن سلولها و انجام الكتروفورز است. در اثر الكتروفورز DNA و قطعات آسیب دیده آن به سمت قطب مثبت مهاجرت نموده و دنباله یا كامت ایجاد می‌كنند كه طول آن متناسب با میزان آسیب افزایش می‌یابد. در پلتفرم پیشنهادی برای اولین بار سه قطعه جدید با كاربرد مشخص و منحصربه‌فرد در روش تست كامت معرفی می‌شوند. این سه قطعه شامل اسلاید چندگانه متخلخل، پلیت بسط دهنده و محفظه خلاء است. محتویات چاهكها از طریق پلیت بسط دهنده به طور همزمان و مستقیم بر روی اسلاید چندگانه متخلخل، منتقل و منتشر می‌شود. همه مراحل كامت به طور همزمان بر روی ژلها انجام می‌شود. در مرحله شستشو با استفاده از محفظه خلاء و نیروی كشش ناشی از آن، ژلها شستشو داده می‌شوند تا تركیبات با قی‌مانده موجود در ژلها از مواد ژنتیكی سلولها دور شده و خطای ناخواسته ایجاد نكنند.